检测项目
腐蚀行为评估：
腐蚀速率：单位时间质量损失率（mg/cm²·d，参照GB/T10125）
表面形貌变化：起泡密度（个/cm²）、剥落面积率（%）
腐蚀产物分析：氯离子渗透深度（μm）、锈层成分XRD图谱
磁性能衰减：
磁通损失率：残余磁通密度（Br）下降百分比（测试周期≥96h）
矫顽力变化：内禀矫顽力（Hcj）衰减值（kA/m）
最大磁能积：BHmax下降率（kJ/m³）
表面完整性：
镀层厚度：镍/环氧涂层厚度测量（μm，±2μm精度）
孔隙率检测：铁氰化钾溶液渗透点数（个/cm²，ASTMB735）
附着力测试：涂层划格剥离等级（0-5级，ISO2409）
电化学参数：
开路电位：腐蚀电位（Ecorr）漂移量（mVvs.SCE）
极化电阻：线性极化法测量（kΩ·cm²）
力学性能关联：
弯曲强度变化：三点弯曲强度保留率（≥原强度80%）
脆性评估：断裂韧性KIC衰减值（MPa·m¹/²）
环境适应性：
循环腐蚀试验：盐雾/干燥/湿热交替周期（参照GMW14872）
温度冲击：-40℃↔85℃交变后腐蚀加速效应
盐雾参数控制：
溶液浓度：氯化钠（50±5g/L）
pH值范围：
中性盐雾6.5-7.2（ISO9227）
沉降速率：1.0-2.0ml/80cm²·h
失效判定基准：
外观等级：锈蚀面积≤0.1%（ISO102899级）
功能失效：磁通损失≥10%（客户规格书）
微观分析：
SEM/EDS：腐蚀界面元素面分布图谱
金相观测：晶间腐蚀深度（μm，500×）
加速老化关联：
当量关系：盐雾24h≈海洋大气1年（依据ASTMG85）
检测范围
1.烧结钕铁硼磁体：检测镀层（Ni-Cu-Ni/Zn/Al）的抗渗透性及晶界腐蚀引发的磁衰减
2.粘结钕铁硼磁体：重点评估有机粘结剂耐水解性及磁粉界面腐蚀
3.钐钴磁体：监测高温盐雾下氧化钐析出导致的磁性能劣化
4.铁氧体永磁：验证表面磷化或喷涂层的孔隙率及基底锈蚀抑制能力
5.铝镍钴磁体：评估α相富钴区选择性腐蚀对矫顽力影响
6.热压钕铁硼：检测细晶结构在腐蚀环境中的稳定性
7.注塑磁体：分析尼龙/PP基体吸潮引发的磁粉电偶腐蚀
8.磁组件（含胶粘）：考核胶粘剂耐盐雾老化性能及界面失效
9.镀层磁体（镀镍/锌/环氧）：双层镍微孔率及三价铬钝化膜耐蚀性验证
10.稀土永磁涂层：物理气相沉积（PVD）Al₂O₃/TiN涂层的盐雾穿透阈值
检测方法
国际标准：
ASTMB117-19盐雾试验标准操作规程
ISO9227:2017人造大气腐蚀试验盐雾试验
IEC60068-2-52:2017环境试验试验Kb：盐雾循环试验
国家标准：
GB/T10125-2021人造气氛腐蚀试验盐雾试验
GB/T2423.17-2008电工电子产品环境试验盐雾试验方法
GB/T1771-2007色漆和清漆耐中性盐雾性能的测定
方法差异说明：ASTMB117仅规定连续喷雾，ISO9227包含中性/乙酸盐/铜加速三种模式；GB/T10125沉降量控制范围（1~2ml/h）严于ASTM（1~3ml/h）；IEC60068-2-52要求温湿度循环阶段。
检测设备
1.盐雾试验箱：CCT-2000型（容积2m³，温度范围RT~60℃，波动度±0.5℃）
2.磁通计：METROLABTHM1176-SJ（测量范围0.1μWb~100mWb，精度±0.2%）
3.电磁铁系统：LDJ10T-HVH型（最大磁场强度3.5T，均匀区±0.5%）
4.电子天平：METTLERXSR205DU（分辨率0.01mg，最大称量220g）
5.金相显微镜：ZEISSAxioImagerM2m（放大倍数50×-1000×，数码成像5MP）
6.扫描电镜：TESCANMIRALMS（分辨率1.2nm，EDS元素分析范围B-U）
7.X射线衍射仪：BRUKERD8ADVANCE（角度精度±0.0001°，扫描速度0.1~100°/min）
8.电化学工作站：GAMRYREFERENCE3000（频率范围10μHz~1MHz，电位分辨率30μV）
9.涂层测厚仪：ELEKTROPHYSIKMINITEST7400（量程0~2000μm，误差±1%）
10.恒温恒湿箱：ESPECPL-3KPH（温度范围-70~150℃，湿度控制10~98%RH）
11.万能材料试验机：SHIMADZUAGX-50kN（载荷精度±0.5%，应变速率控制0.0001~1000mm/min）
12.激光共聚焦显微镜：KEYENCEVK-X3000（Z轴分辨率0.01nm，3D形貌重建）
13.盐雾沉降量收集器：标准漏斗装置（收集面积80cm²，计量精度±0.1ml）
14.pH计：METTLERTOLEDOFE28（分辨率0.01pH，自动温度补偿）15.电导率仪：THERMOSCIENTIFICORIONSTARA215（量程0~2000mS/cm，精度±0.5%）
